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Microscopio de luz polarizada para detección de semiconductores y PCB

Iluminador reflejado oscuro brillante con diáfragma de campo de iris y diafragma de apertura, central ajustable. Con ranura de filtro y ranura polarizadora. Con interruptor para campo luminoso y oscuro;
Ampliación 50x / 100x / 200x / 500x (1000x Compra opcional);
Incluyendo puerto de fotografía, puede trabajar con cámara y computadora;
Quintuple invertido (cinco orificios) de la pieza
Estado de Disponibilidad:
  • E-50m
  • EBP INSTRUMENTS
  • Shanghai, China
  • 300 sets por mes
  • T / T por adelantado
  • 1 AET

Introducción:

1. El nuevo microscopio metalúrgico E-50M para la investigación con una serie de diseño pionero en apariencia y funciones, nace para proporcionar una solución de detección perfecta y desarrollar un nuevo patrón de campo industrial.

2. La cabeza de visualización E-50M está diseñada de múltiples opciones para la relación de división. Con sistema de imagen de haz ancho, se dispone de 26,5 mm de vista super ancha de vista.

3. Cabeza trinocular con imagen erecta, ratio de división binocular : Trinocular = 100: 0 o 0: 100. La dirección móvil de las muestras es tan observada.

4. Sistema de polarización: El polarizador y el analizador en el sistema de polarización contribuyen a eliminar la luz alejada en semiconductor y la detección de PCB, la imagen con detalles claros es alcanzable. Hay analizador fijo y analizador giratorio para la opción. La muestra se puede observar en diferentes ángulos de polarización con un analizador giratorio de 360 ​​°.

5. Enlace entre el filtro de densidad neutro y el interruptor para BF y DF La palanca en frente del iluminador se usa para cambiar entre campo brillante y campo oscuro, y está en tándem con un filtro de densidad neutra (ND50). Cuando cambia de DF a BF, el filtro ND50 incorporado toma la función para descomponer la intensidad de la luz. Más científico y más cómodo.

 

Especificaciones técnicas:

Modelo E-50m

Sistema óptico

Sistema óptico corregido por color infinito.

Viendo la cabeza

Imagen erecta, cabezal trinocular de Gemel inclinado 30 °, distancia interpupilar: 50mm - 76mm; Ratio de división R: T = 100: 0 o 0: 100

Ocular

Alto Eyepoint Ancho Plan de campo Eyopista PL10X25MM, DIOPTER AJUSTABLE

Objetivo

Objetivos metalúrgicos semi-apocromáticos BD (5x / 10x / 20x / 50x)

Muserola (con ranura DIC)

Bd quintuple nariz pieza (5 hoyos)

Marco

Cuerpo reflejado / transmitido, ajuste grueso y fino coarraxial de posición baja, distancia de ajuste grueso: 25 mm; Precisión fina: 0.001mm. Con el ajuste de ajuste grueso y el ajuste de la opresión.

Transformador de voltaje de ancho 100-240V incorporado, salida de potencia de doble forma; Intensidad ajustable por conjunto digital y reinicio; cambiar de reflexión y transmisión; Filtros transmitidos incorporados LBD / Nd6 / ND25).

Escenario

Etapa mecánica de 4 pulgadas tres capas con placa de vidrio, rango de movimiento: 102mm (y) * 105mm (x)

Condensador

Swing-Out Type Achromatic Condenser (n.A.0.9)

Iluminador reflejado

Iluminador reflejado BD con diafragma de campo de iris y diafragma de apertura, central ajustable. Con ranura de filtro y ranura polarizadora. Con interruptor para campo brillante y oscuro.

casa de lámpara

Casa de lámpara halógena 12V / 100W, preesconz center

Otro accesorios

Polarizador fijo, analizador fijo, analizador giratorio de 360 ​​°


software de microscopio de metallografía

Este software se puede usar con una variedad de microscopio metalográfico para completar la adquisición, procesamiento, análisis, generación de informes y otras funciones de adquisición de imágenes metalográficas y otras funciones; También hay que ver la biblioteca, la medición geométrica, la impresión de pliegue fijo, la costura de la imagen, el contraste de la imagen, la confocal), los mapas de luz tridimensionales y otras funciones. En comparación con el método manual tradicional, el software de muestra para el análisis de imagen metalográfico, con las siguientes ventajas:

Guarde el sistema de cámara de cuarto oscuro tradicional, directamente con una cámara digital para tomar fotografías, las fotos se pueden guardar o grabar.

Puede compararse en el mapa de la computadora y en la consulta estándar, no lea los libros estándar.

Puede calcular de manera rápida y precisa automáticamente los diversos tipos de microestructura del perímetro, área, eje largo, eje corto, diámetro del círculo equivalente,

La relación de aspecto, el porcentaje de área y otros parámetros de forma geométrica, que el método de cálculo manual anterior, ha mejorado enormemente.

Se pueden aplicar estándares metalográficos cuantitativos para calcular automáticamente el nivel, el nivel de resultados para permitir la intervención humana.

Puede generar automáticamente el informe de inspección de documentos electrónicos, el informe se puede guardar como Word, Excel, PDF y otros documentos.

Todo el proceso de inspección está completo en la computadora, para lograr un impulso de oficina, mejorar enormemente el nivel de información empresarial.


Análisis metalográfico:

El software incluye ocho categorías principales, más de 100 estándares de inspección (incluidos GB, JB, QC / T, NJ, DL, YB, TB / T, ISO, ASTM, JIS, etc.), más de 600 módulos de análisis de imágenes metalográficos, Los estándares cubiertos son:

comúnmente utilizado: incluyendo Tamaño de grano, inclusiones no metálicas, capa de descarburización, análisis cuantitativo metalográfico, área de fase.

hierro fundido: Incluye hierro dúctil, hierro fundido gris, análisis de hierro fundido de grafito vermicular.

acero: Incluye acero inoxidable, acero de herramientas, todo tipo de acero al carbono, todo tipo de análisis de acero de aleación.

Metales y aleaciones no ferrosas.: Incluye aleación de aluminio, aleación de magnesio, aleación de cobre, análisis de aleaciones de titanio.

Vehículos y motores.: Todos los tipos de vehículos, engranajes, análisis de motores y accesorios.

Estándares de la industria eléctrica.

Otro: hay metalurgia en polvo, enseñanza de metallografía.

ASTM, DIN, JIS y otros estándares exteriores.


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